隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展，對產(chǎn)品質(zhì)量和結(jié)構(gòu)**性，使用可靠性提出越來越高的要求，由于無損檢測技術(shù)具有不破壞試件，檢測靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)，所以其應(yīng)用日益廣泛。目前對壓力容器的檢測方法有多種，主要介紹無損檢測的常用技術(shù)如射線、超聲、磁粉和滲透及新技術(shù)如聲發(fā)射、磁記憶等。無損檢測方法現(xiàn)代無損檢測的定義是：在不損壞試件的前提下，以物理或化學(xué)方法為手段，借助先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備器材，對試件的內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)，性質(zhì)，狀態(tài)進(jìn)行檢查和測試的方法。射線檢測射線檢測技術(shù)一般用于檢測焊縫和鑄件中存在的氣孔、密集氣孔、夾渣和未融合、未焊透等缺陷。另外，對于人體不能進(jìn)入的壓力容器以及不能采用超聲檢測的多層包扎壓力容器和球形壓力容器多采用Ir或Se等同位素進(jìn)行γ射線照相。但射線檢測不適用于鍛件、管材、棒材的檢測。射線檢測方法可獲得缺陷的直觀圖像，對長度、寬度尺寸的定量也比較準(zhǔn)確，檢測結(jié)果有直觀紀(jì)錄，可以長期保存。但該方法對體積型缺陷檢出率高，對體積型缺陷，如果照相角度不適當(dāng)，容易漏檢。

另外該方法不適宜較厚的工件，且檢測成本高、速度慢，同時(shí)對人體有害，需做特殊防護(hù)。超聲波檢測超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)產(chǎn)生衰減，遇到界面產(chǎn)生反射的性質(zhì)來檢測缺陷的無損檢測方法。超聲檢測既可用于檢測焊縫內(nèi)部埋藏缺陷和焊縫內(nèi)表面裂紋，還用于壓力容器鍛件和高壓螺栓可能出現(xiàn)裂紋的檢測。該方法具有靈敏度高、指向性好、穿透力強(qiáng)、檢測速度快成本低等優(yōu)點(diǎn)，且超聲波探傷儀體積小、重量輕，便于攜帶和操作，對人體沒有危害。但該方法無法檢測表面和近表面的延伸方向平行于表面的缺陷，此外，該方法對缺陷的定性、定量表征不準(zhǔn)確。磁粉檢測陷處漏磁場與磁粉相互作用而顯示鐵磁性材料表面和近表面缺陷的無損檢測方法。在以鐵磁性材料為主的壓力容器原材料驗(yàn)收、制造安裝過程質(zhì)量控制與產(chǎn)品質(zhì)量驗(yàn)收以及使用中的定期檢驗(yàn)與缺陷維修監(jiān)測等及格階段，磁粉檢測技術(shù)用于檢測鐵磁性材料表面及近表面裂紋、折疊、夾層、夾渣等方面均得到廣泛的應(yīng)用。

LY6000變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀

產(chǎn)品描述

用于超高壓現(xiàn)場介損的測量,用變頻抗干擾和傅立葉數(shù)字濾波技術(shù),保持強(qiáng)電場干擾下測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠;測量結(jié)果由大屏幕雙色液晶屏清晰顯示,全中文操作界面,使用極其方便。

技術(shù)參數(shù)

抗干擾方式：變頻抗干擾

測試方式： 正接法 反接法 外接法 

測量范圍： 電容量 內(nèi)接高壓 <60000PF

                    外接高壓: 30-600000PF

                    介    損   不限,*小分辨率0. 01%

CVT測量：獨(dú)特自激法測量CVT功能，不需外加任何設(shè)備，可完成不可拆頭CVT的測量。

準(zhǔn) 確 度： 電容量 ±(1.5%讀數(shù)+2PF)

            介 損 ±(2%讀數(shù)+0.09%)

內(nèi)接試驗(yàn)電源：0.5-10KV 電壓緩升緩降

45-65Hz頻率可調(diào)，45/55Hz自動雙頻測試，*大輸出電流200mA

JSY-5介質(zhì)損耗測試儀

產(chǎn)品描述

是測量介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容值（Cx）的自動化儀表。可以在工頻高電壓下，現(xiàn)場測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容值（Cx）。與電容電橋相比，具有操作簡單、自動測量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

技術(shù)參數(shù)

1、環(huán)境：-5℃～40℃

2、相對濕度：30%～70%

3、供電電源：AC 220V±10%，50Hz

4、輸出功率：1KVA

5、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

6、測試方法：正接法、反接法、外接法

7、輸出電壓：2.5KV、3KV、5KVA、7.5KV、10KV五檔可調(diào)

8、測量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF

                    外接試驗(yàn)電壓：≤10μF

9、基本測量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5%±0.09%

電容容量（Cx）：1.0%±2PF

10、重量：20kg （435*300*300mm）